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高加速应力试验箱-湿热加速箱 HAST 试验能够在短时间内模拟产物长时间使用后的状态，快速地使产物老化，加速激发产物潜在的缺陷和故障，从而有效筛选出早期失效的产物，让制造商能在产物研发和生产阶段尽早发现问题，如电子元器件的封装缺陷、材料的不耐湿热特性等，以便提前采取措施加以改进，提高产物的可靠性

HAST加速老化试验箱 电子元器件：如集成电路、半导体元件、电容器、电阻器等，通过 HAST 试验可以评估其在高温高湿及压力条件下的密封性能、防潮性能以及老化性能，快速暴露潜在的可靠性问题，如封装不良、材料老化等，确保其在实际使用中的稳定性和可靠性

PCT 高压加速老化试验箱 气压湿度款 具有模拟大气环境中温度变化规律。主要针对于电工，电子产物，以及其元器件及其它材料在高温，低温综合环境下运输，使用时的适应性试验。用于产物设计，改进，鉴定及检验等环节。

高压加速老化试验机 HT-HAST-80L 该设备主要是测试产物在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验， 主要用于对 电工、电子产物，元器件、零部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下，对产物的物理 以及其它相关性能进行测试，测试后，通过检定来判断产物的性能是否能够达到要求，以便供产物的设计、改进、 检定及出厂检验使用。密封性能的检测，相关之产物作加速